电子元器件来料检验流程电子元器件来料检验流程尼龙管

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1、电子元器件受控印章:检验说明:对本公司得进货原材料按规定进行核对总与试验,确保产品得最终品质。1、适用于IQC对通用产品得来料检验。适用对元件检验方法与范围得指导。适用于IPQC、QA对产品在制程与终检时,对元件进行覆核查证。1、IQC在检验过程中按照检验指导书所示检验专案,参照供应商器件确认书对来料进行检验。

2、检验标准参照我司制定得IQC《进料检验规范》执行。本检验指导书由品管部QE负责编制与维护,品管部主管负责审核批准执行。检验抽样方案:元器件类:按照GB282887正常检查一次抽样方案,一般检查水准进行。非元器件类:按照GN282887正常检查一次抽样方案,特殊检查水准进行。盘带包装物料按每只进行测试替代法检验得物料其替代数量根据本公司产品用量得倍进行替代测试验收合格标准得缩写。

电子元器件来料检验流程相关拓展

电子元器件来料检验流程图

ppt文档大小：3.4M文档页数：65页顶/踩数：0/0收藏人数：0评论次数：0文档热度：文档分类：办公文档--事务文书文档标签：电子元器件来料检验培训教程。来料错不良主要有来料的规格要求不符，即来料的一些相关参数与要求不符，如电阻、电容等的误差值，三极管的放大倍数等。另外有要求来此料，而实际来成彼料，如本要求来电阻，而实际来成电容等。

也有没有PO的料——即多余物料。---精品---二、数量错。此不良主要是指来料时数量不符，包括多料（如超ITV数等）、少料（如总数比GRN数少、包装实数比标示三、标示错。此不良是指来料本身没有不良，而只是在内外包装，LABEL等的标示时出现错误，如标示时PN写错，多字符或少字符等。

电子元器件来料检验流程

来料错不良主要有来料的规格要求不符，即来料的一些相关参数与要求不符，如电阻、电容等的误差值，三极管的放大倍数等。另外有要求来此料，而实际来成彼料，如本要求来电阻，而实际来成电容等。也有没有PO的料——即多余物料。此不良主要是指来料时数量不符，包括多料（如超ITV数等）、少料（如总数比GRN数少、包装实数比标示三、标示错。

此不良是指来料本身没有不良，而只是在内外包装，LABEL等的标示时出现错误，如标示时PN写错，多字符或少字符等。此不良包括一次来料的多个物料混装、标示不对应、包装破损以及一个物料的包装松散、摆放不整齐等。此不良易造成IQC检查物料时找料难、整理麻烦、降低工作效率等，另也容易造成物料变形、划伤、破损等其它不良。

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